半導體全自動控溫老化設備提升芯片可靠性測試效能 2025年7月31日 166 芯片可靠性測試是半導體產業鏈中確保產品質量的關鍵環節之一,通過模擬苛刻環境加速芯片老化過程,可在短時間內篩選出潛在問題,為產品設計優化和量產良率提升提供數據支撐。 查看全文